한국항공대학교 전자공학과를 졸업(공학사)한 후 모토로라 코리아(Motorola Korea Co., Ltd. 반도체 부문) Final Test에서 High Frequency & Optical Device의 Test Engineering Reliability & Assurance를 담당했다. 현대전자산업㈜ 반도체 품질보증실(DRAM Memory), 사명이 변경된 하이닉스반도체㈜ 품질보증실(DRAM Based Module), Mobile & Flash 사업본부(NAND Flash Memory & Marketing), Flash 개발본부(NAND Flash Memory)에서 수석연구원을 지냈고, 다시 사명이 변경된 SK하이닉스㈜ Flash Solution 개발본부(NAND Flash Memory), NAND Solution 개발본부(NAND Based SSD)의 수석연구원을 포함하여 27년간 반도체 제품에 대한 신뢰성/품질 및 연구개발을 진행했다. 현재는 국립한밭대학교 지능형 나노반도체학과에서 산학협력중점 교수로 재직 중이다. IEEE 정회원, IEIE 평생회원이다. 저서로는 『NAND Flash 메모리』(홍릉과학출판사, 2015)가 있다. 본 도서는 국내 최초로 출간된 NAND 메모리 관련 도서이다.