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단일 이벤트 효과와 반도체 소프트 오류의 평가
- 글쓴이
- 정성수 외 3명
- 출판사
- 다윈의서재
- 출판일
- 2025년 9월 30일
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저자
정성수
미국 플로리다 공대에서 테스트 용이화 설계(DFT)를 전공한 후, 단일 이벤트 효과(SEE) 분야에서 25년여 동안 소프트오류 가속 평가, 자료 분석과 완화 기술 개발에 참여하였다. 제1차 해외인재 유치사업을 통해 한양대학교 연구교수로 국내 복귀하여 현재는 큐알티(주) CTO로 근무하면서 SEE 평가 시스템 개발을 주도하고 JEDEC 표준 멤버와 ASSIC 컨퍼런스를 통한 기술 저변 확대 및 인재 양성에 힘쓰고 있다.
- Apple Computer
- Cisco Systems, Director
- SynTest Technology, VP
- Eigenix Inc. CEO
- 한양대학교 연구교수
- 큐알티 주식회사 CTO
- Apple Computer
- Cisco Systems, Director
- SynTest Technology, VP
- Eigenix Inc. CEO
- 한양대학교 연구교수
- 큐알티 주식회사 CTO
책 소개
분야대학교재
반도체의 신뢰성을 위협하는 가장 중요한 요인 중 하나, 단일 이벤트 효과(SEE, Single Event Effect).
본서는 소프트 오류(Soft Error)의 발생 원인부터 방사선 환경, 반도체와 입자의 상호작용, 평가 및 분석 방법, 그리고 국제 표준에 따른 최신 시험 기법까지 전 과정을 체계적으로 정리한 국내 최초의 전문 교재이다. 항공·우주, 군수, 자율주행, 인공지능 데이터 센터 등 고신뢰성이 필수적인 산업 분야에서 반드시 참고해야 할 실전 가이드로, 연구자와 엔지니어뿐 아니라 기술 관리·마케팅 종사자에게도 필독서가 될 것이다.
본서는 소프트 오류(Soft Error)의 발생 원인부터 방사선 환경, 반도체와 입자의 상호작용, 평가 및 분석 방법, 그리고 국제 표준에 따른 최신 시험 기법까지 전 과정을 체계적으로 정리한 국내 최초의 전문 교재이다. 항공·우주, 군수, 자율주행, 인공지능 데이터 센터 등 고신뢰성이 필수적인 산업 분야에서 반드시 참고해야 할 실전 가이드로, 연구자와 엔지니어뿐 아니라 기술 관리·마케팅 종사자에게도 필독서가 될 것이다.
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