수율이 1%포인트 올라갔다면 공장의 이익도 그만큼 늘어났을까. 웨이퍼 한 장에서 몇 개의 다이가 나왔는지, 어느 검사 단계를 통과했는지, 추가 양품이 실제로 판매될 수 있는지를 모르면 답할 수 없다. 반도체 수율 엔지니어는 퍼센트 숫자 뒤에 숨은 제조 이력과 불량의 원인을 추적하는 사람이다. 좋아 보이는 그래프를 보고 안심하는 대신 어떤 제품, 어느 위치, 어떤 시간대에서 변화가 시작되었는지 확인한다. 수율 개선을 주장하는 보고서에서는 그 결과가 재현되는 조건과 측정되지 않은 구간까지 적는 태도가 중요하다. 이 원칙은 입사 후 실제 협업에서도 통하는 역량으로 이어진다.

수율의 분모와 양품 수를 구분하고, 로트·웨이퍼·다이라는 세 가지 주소를 따라 공정 데이터와 검사 결과를 연결한다. 웨이퍼맵에 나타난 가장자리 불량과 중심부의 이상, 랜덤 패턴과 반복 패턴은 서로 다른 조사 방향을 열어 준다. 관리도와 파레토 분석은 이상을 선별하는 도구이지만 원인을 저절로 증명하지 않는다. 실제로 관찰한 상관관계와 공정 개선의 인과관계를 구별하는 방법에 집중한다.

수율 급락 상황에서는 누가 무엇을 확인해야 할까. 장비 담당자와 공정 엔지니어, 설계와 품질 조직은 같은 사건을 서로 다른 업무 언어로 읽는다. 이 책은 문제를 좁히는 가설과 데이터 보존, 변경 실험과 전후 비교, 긴급 대응과 보고의 책임을 하나의 업무 흐름으로 연결한다. 메모리·파운드리·패키징에서 수율이라는 단어가 달라지는 지점도 살펴, 한 회사의 지표를 다른 현장에 그대로 적용하지 않도록 한다.

통계·전자·재료·산업공학을 공부한 독자와 반도체 데이터 직무를 준비하는 사람에게 유용한 안내서다. SQL과 Python이라는 기술명만 적는 대신 데이터 정제, 가설 검증, 재현 가능한 분석, 결과의 한계를 정직하게 표현하는 포트폴리오를 구상하도록 돕는다. 불량의 위치를 표시하는 데서 끝나지 않고 그 불량을 줄일 수 있는 근거를 만드는 일이 어떤 직업인지 만나 보자.