Extended X－ray Absorption Fine Structure(EXAFS) 분석법은 물질의 국부구조 특히 비결정질 재료의 구조를 분석하는 기술로 1971년 미국에서 처음 개발되었다. 그러나 오늘날 EXAFS 분석은 비결정질 재료뿐 아니라 결정질, 분자, 촉매 등 다양한 재료의 구조 분석에 이용되고 있으며 1970년대 방사광 가속기(Synchrotron)의 출현은 EXAFS 분야의 발전을 가속화시켰다. 이 책은 EXAFS에 관한 교재로서, X선의 특성 및 EXAFS에 관한 일반적인 소개를 비롯하여 EXAFS의 미세구조, 미세구조의 변화에 따른 물리 현상을 분석 등을 상세히 다루고 있다.